MCVT405 CT/PT Analyzer

အချိုးအကွေ့စမ်းသပ်မှု။

အချိုးအမှားနှင့် အဆင့်ထောင့်အမှားစမ်းသပ်မှု။

အလယ်တန်းဝန်စာမေးပွဲ။

နံမည်မှန်းဆ။

CT သည် ကျန်နေသေးသော သံလိုက်ဓာတ်အား ဆုံးဖြတ်ခြင်း နှင့် demagnetization ။

ကွဲပြားမှုစစ်ဆေးခြင်း။

ALF & FS ။

ကျွန်ုပ်တို့ထံ အီးမေးလ်ပို့ပါ။

အင်္ဂါရပ်များ

နည်းပညာအညွှန်း

CT နှင့် PT ၏အချိုးအမှားစမ်းသပ်မှု။

Impedance နှင့် Admittance Test ။

LCD display နှင့် touch screen လုပ်ဆောင်ချက်။

polarity မူမမှန် သို့မဟုတ် အချိုးမညီသောအခါတွင် အသံနှင့်အလင်းအချက်ပေးစနစ်။

RS232 ဆက်သွယ်ရေးပေါက်နှင့်အတူ။

PC Software ဖြင့်

ထည့်သွင်းထားသော ပရင်တာဖြင့် (ချန်လှပ်ထားနိုင်သည်)။

အဓိကအင်္ဂါရပ်များ

CT စစ်ဆေးခြင်း။

PT စမ်းသပ်မှု

1) စိတ်လှုပ်ရှားမှုမျဉ်းကွေးနှင့် ကန့်သတ်ချက်များ စမ်းသပ်ခြင်း။2) အချိုးအကွေ့စမ်းသပ်မှု

3) အချိုးနှင့်အဆင့်အမှားစမ်းသပ်မှု

4) Polarity အမှတ်အသားစစ်ဆေးပါ။

5) Winding resistance တိုင်းတာခြင်း။

6) အလယ်တန်းဝန်တိုင်းတာခြင်း။

7) ကာကွယ်မှု CT အတွက် Error line curve test

8) Transient CT parameters များကို စမ်းသပ်ခြင်း။

9) CT တံဆိပ်မှန်းဆချက်

10) Saturation hysteresis loop မျဉ်းကွေးတိုင်းတာခြင်း။

11) CT Residual Magnetism ပြဌာန်းခြင်းနှင့် demagnetization

1) အချိုးအကွေ့စမ်းသပ်မှု2) အချိုးအမှားစမ်းသပ်မှု

3) အဆင့်ထောင့်အမှားစမ်းသပ်မှု

4) Polarity စမ်းသပ်မှု

5) အလယ်တန်းဝန်စာမေးပွဲ

6) Winding resistance စမ်းသပ်မှု

• တိကျမှုကန့်သတ်ချက်တန်ဖိုး coefficient (ALF) • တူရိယာလုံခြုံရေးအချက် (FS)

လျှောက်လွှာများ

• CT nameplate ထင်တာပဲ။

• CT ဘောင်များသည် အလုပ်ဝန်ထုပ်ဝန်ပိုးကို စစ်ဆေးပါ။

• PT ပုံမှန်စစ်ဆေးမှု

• CT ယာယီဘောင်များကို ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်း။

• CT အချိုးအစားနှင့် အဆင့်အမှား စံကိုက်ညှိခြင်း။

ယခင်- HEWE Series Transformer Tester

နောက်တစ်ခု: CT/PT Analyzer MCVT01C

1) စမ်းသပ်မှုစံနှုန်းများ- IEC60044-1၊ IEC60044-6၊ IEC60044-2၊ IEC60044-5၊ C57.13

2) ပါဝါထောက်ပံ့မှု- AC220V±10%, 50/60Hz±10%

3) ဗို့အား/လက်ရှိအထွက်- 0.1~180V (AC) / 0.001~5A(RMS)

5) ပါဝါအထွက်: 500VA

6) အမြင့်ဆုံး ဒူးဗို့အား တိုင်းတာခြင်း- 45KV

7) လက်ရှိတိုင်းတာခြင်း။
အပိုင်းအခြား- 0~10A (0.1/0.4/2/10A တွင် အပိုင်းအခြားကို အလိုအလျောက် ပြောင်းလဲ)
အမှား- <±0.1%+0.01%FS

8) ဗို့အားတိုင်းတာခြင်း။
အပိုင်းအခြား- 0 ~ 200V (အကွာအဝေး 1V/10V/70V/200V တွင် အလိုအလျောက်ပြောင်းသည်)
အမှား- < ±0.1%+0.01%FS

9) အချိုးအကွေ့တိုင်းတာခြင်းနှင့်အမှား
အတိုင်းအတာ- 1~35000
1~5000 (အမှား<0.05%) & 5000~35000 (အမှား<0.1%)

10) အဆင့်တိုင်းတာမှုအမှား- ± 2 မိနစ်နှင့် ကြည်လင်ပြတ်သားမှု- 0.01 မိနစ်

11) Winding resistance တိုင်းတာခြင်း။
အပိုင်းအခြား- 0~8kΩ (အကွာအဝေး 2ohm/20ohm/80ohm/800ohm/8kohm တွင် အလိုအလျောက်ပြောင်းသည်)
အမှား- < 0.2%RDG+0.02%FS
အမြင့်ဆုံး ရုပ်ထွက်- 0.1mΩ

12) အပူချိန်တိုင်းတာခြင်း - 50 ~ 100 ဒီဂရီစင်တီဂရိတ်;အမှားအယွင်း <3 စင်တီဂရိတ်ဒီဂရီ

13) CT Secondary ဝန်
အပိုင်းအခြား- 0～160ohm (အကွာအဝေး 2ohm/20ohm/80ohm/160ohm အလိုအလျောက်ပြောင်းသည်)
အမှား- <0.2%RDG+0.02%FS
အမြင့်ဆုံး ရုပ်ထွက်- 0.001ohm

14) PT အလယ်တန်းဝန်
အပိုင်းအခြား- 0～80kohm (အကွာအဝေး 800ohm/8kohm/80kohm အလိုအလျောက်ပြောင်းသည်)
အမှား-<0.2%RDG+0.02%FS
အမြင့်ဆုံး ရုပ်ထွက်- 0.1ohm

15) PT အချိုးတိုင်းတာခြင်း & အမှား
အတိုင်းအတာ- 1~35000
1~10000 (အမှား<0.1%) & 10000~35000 (အမှား<0.2%)

16) PT အချိုးအမှားတိုင်းတာခြင်း- ပုံမှန်အမှား <0.05%, အမြင့်ဆုံးအမှား<0.1%

17) PT အဆင့်ထောင့်တိုင်းတာခြင်း- အမြင့်ဆုံးအမှား < 3 မိနစ်

18) ရွေးချယ်ထားသော စံချိန်စံညွှန်းများနှင့်အညီ စာမေးပွဲရလဒ်များကို အကဲဖြတ်ပါ။

19) စာမေးပွဲရလဒ်အတွက် စကားလုံးအစီရင်ခံစာကို ပြုလုပ်ပါ။

20) PC ပေါ်ရှိ အုပ်စုပေါင်းများစွာ စမ်းသပ်မှုမှတ်တမ်းများအတွက် စကားလုံးအစီရင်ခံစာများကို တစ်ကြိမ်ပြုလုပ်ပါ။

21) တစ်ကြိမ်စမ်းသပ်မှုတွင် အဆင့်သတ်မှတ်ထားသော ဝန်နှင့် အလုပ်ဝန်ထုပ်ပိုးများတွင် အချိုးအမှားများနှင့် အဆင့်ထောင့်အမှားများကို တွက်ချက်ပါ။

22) တူညီသောဝင်းဒိုးတွင်သိမ်းဆည်းထားသော excitation curves များနှင့် နှိုင်းယှဉ်ပါ။

23) မှတ်ဉာဏ်စွမ်းရည်- အဖွဲ့ပေါင်း 1000 စမ်းသပ်မှုရလဒ်များ

24) လုပ်ငန်းအခြေအနေ- အပူချိန်-10℃~50℃;စိုစွတ်မှု- ≤90%

25) အရွယ်အစား- 485mm×356mm×183mm